Data-Constrained Microstructure Characterization with Multispectrum X-Ray
作者
Sheridan C Mayo, Andrew M Tulloh, Adrian Trinchi, Sam Yang
发表日期
2012
期刊
Microscopy and Microanalysis
卷号
1
期号
1
页码范围
1-7
出版商
Cambridge University Press
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SC Mayo, AM Tulloh, A Trinchi, SYS Yang - Microscopy and Microanalysis, 2012