Gerald jellison

Gerald jellison

Senior Scientist, Oak Ridge National Laboratory
在 ornl.gov 的电子邮件经过验证
被引用次数：15947
Ellipsometry thin films optical properties NMR of glasses
Juan Antonio Zapien

Juan Antonio Zapien

City Uniiversity of Hong Kong
在 cityu.edu.hk 的电子邮件经过验证
被引用次数：12398
Optical properties nanomaterials thin films ellipsometry nanophotonics
Hiroyuki Fujiwara

Hiroyuki Fujiwara

Gifu University
在 gifu-u.ac.jp 的电子邮件经过验证
被引用次数：11458
Solar cells Photovoltaics Ellipsometry Optical characterization
Maria Isabel Alonso

Maria Isabel Alonso

Institut de Ciència de Materials de Barcelona (ICMAB-CSIC)
在 icmab.es 的电子邮件经过验证
被引用次数：8619
Semiconductors Ellipsometry SERS FDTR MBE
Alain Diebold

Alain Diebold

University at Albany, SUNY
在 albany.edu 的电子邮件经过验证
被引用次数：5108
Characterization Metrology microscopy ellipsometry
Martin Feneberg

Martin Feneberg

Researcher, Otto von Guericke University Magdeburg
在 ovgu.de 的电子邮件经过验证
被引用次数：4842
semiconductor optics wide bandgap semiconductors III-nitrides ellipsometry Raman and luminescence
Alexandr Dejneka

Alexandr Dejneka

Institute of Physics of the Czech Academy of Sciences
在 fzu.cz 的电子邮件经过验证
被引用次数：4827
optics biophysics thin films ellipsometry
Shiyuan Liu (刘世元)

Shiyuan Liu (刘世元)

Huazhong University of Science and Technology
在 hust.edu.cn 的电子邮件经过验证
被引用次数：4625
Ellipsometry Scatterometry Nanometrology Defect Inspection Thin Film Characterization
Jai Seok Ahn

Jai Seok Ahn

Professor of Physics, Pusan National University, Korea
在 pusan.ac.kr 的电子邮件经过验证
被引用次数：4584
Condensed Matter Physics Multiferroics Ellipsometry
Andre Santarosa Ferlauto

Andre Santarosa Ferlauto

Professor of Materials Engineering, Universidade Federal do ABC
在 ufabc.edu.br 的电子邮件经过验证
被引用次数：4405
Nanomaterials thin films optical properties ellipsometry photovoltaics
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