正在加载...
系统目前无法执行此操作，请稍后再试。
每年引用数
重复的引用
下面的文章将在学术搜索中合并。它们的
合并引用
次数只会计入第一篇文章。
合并的引用
此“引用引文的出版物数量”计数包含了对学术搜索中以下文章的引用次数。带有
*
标记的引文可能与个人学术档案中的文章有所区别。
添加合著者
合著作者
上传 PDF
PDF
还原
永久删除
关注此作者
此作者发表了新文章
有对此作者文章的新引用
有与此作者的研究工作相关的新文章
用于接收动态的电子邮件地址
完成
学术搜索
我的图书馆
统计指标
登录
学术搜索
登录
个人学术档案
我的图书馆
Jacopo Franco
imec
在 imec.be 的电子邮件经过验证
被引用次数：6497
CMOS devices
reliability
Bias Temperature Instability
variability
high mobility channels
引用
共建清朗的网络空间,如遇有害信息,请
举报
。
本站数据皆整合自互联网公开资源索引,方便科研学术方面查询,并不存储相关数据资源;如对此有异议,请联系我们解决.
© 2023 学术资源搜索
@联系我们
|
申请短期会员
|
数据源提交
