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Fabian Haake

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Multi‐Material Strain Mapping with Scanning Reflectance Anisotropy Microscopy J Sendra, F Haake, M Calvo, H Galinski, R Spolenak Advanced Functional Materials 33 (42), 2302179, 2023	2	2023
Scanning Reflectance Anisotropy Microscopy for Multi-Material Strain Mapping J Sendra, F Haake, M Calvo, H Galinski, R Spolenak arXiv preprint arXiv:2302.04095, 2023	1	2023
Strain mapping in amorphous germanium thin films with scanning reflectance anisotropy microscopy F Haake, J Sendra, M Calvo, H Galinski, R Spolenak Applied Physics Letters 125 (4), 2024		2024

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