| IR spectroscopic investigation of SiO2 film structure IP Lisovskii, VG Litovchenko, VG Lozinskii, GI Steblovskii Thin Solid Films 213 (2), 164-169, 1992 | 121 | 1992 |
| IR study of short-range and local order in SiO2 and SiOx films IP Lisovskii, VG Litovchenko, VB Lozinskii, SI Frolov, H Flietner, W Fussel, ... Journal of non-crystalline solids 187, 91-95, 1995 | 91 | 1995 |
| Structure of the modified surface layer formed by ion bombardment of SiO2 films IP Lisovskii, VG Litovchenko, VB Lozinskii, VP Melnik, SI Frolov Thin Solid Films 247 (2), 264-270, 1994 | 17 | 1994 |
| Применение алмазоподобных углеродных пленок для просветления кристаллов полуизолирующего GaAs в ИК-области спектра НИ Клюй, АИ Липтуга, ВБ Лозинский, АН Лукьянов, АП Оксанич, ... Письма в Журнал технической физики 38 (13), 27-34, 2012 | 6 | 2012 |
| Effect of UV annealing of radiation damage in SiO2 films IP Lisovskii, VG Litovchenko, VB Lozinskii Applied surface science 86 (1-4), 299-302, 1995 | 6 | 1995 |
| Processes of formation of buried insulating layer in Si at implantation of N+ and O+ ions BN Romanjuk, VG Popov, AY Prokofjev, IP Lisovskii, VB Lozinskii, ... UKRAINSKII FIZICHESKII ZHURNAL 37 (3), 389-393, 1992 | 4 | 1992 |
| Повышение деградационной стойкости кристаллов полуизолирующего арсенида галлия плазменными обработками НИ Клюй, АИ Липтуга, ВБ Лозинский, АП Оксанич, ВА Тербан, ... Письма в ЖТФ 38 (22), 2012 | 2 | 2012 |
| CHARACTERISTICS OF OXYGEN-CONTAINING SILICON SINGLE-CRYSTALS SUBJECTED TO LONG-TERM THERMAL TREATMENTS IP Lisovskii, VG Litovchenko, VB Lozinskii, VG POPOV, BN ROMANYUK, ... UKRAINSKII FIZICHESKII ZHURNAL 39 (1), 68-73, 1994 | 2 | 1994 |
| Вплив термічних відпалів на оптичні властивості пластин напівізолюючого арсеніду галію, легованих телуром МІ Клюй, МГ Когдась, АІ Ліптуга, ВБ Лозінський, АП Оксанич, ... Автоматизированные системы управления и приборы автоматики, 136-141, 2013 | 1 | 2013 |
| Ионно-плазменная обработка монокристаллов Cd1-xZnxTe (x~ 0.04) и оптическое просветление алмазоподобными углеродными пленками НИ Клюй, ВБ Лозинский, АН Лукьянов, ВА Мороженко, РК Савкина, ... Журнал технической физики 82 (8), 83-88, 2012 | 1 | 2012 |
| Optical characterization of the structure of SIPOS layers IP Lisovskii, VG Litovchenko, VB Lozinskii, EV Mischenko, W Fussel International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for …, 1995 | 1 | 1995 |
| Структурні та морфологічні властивості нанометрових вуглецевих плівок, отриманих розпиленням графіту електронним променем ВО Юхимчук, ВМ Джаган, ОФ Ісаєва, ПМ Литвин, АА Корчовий, ... Український фізичний журнал, 766-773, 2023 | | 2023 |
| Effect of TiO2 Layers Thickness Inhomogeneity on Transport of Charge Carriers in Disperse Dye Solar Cells II Ivanov, VB Lozinskii, VP Kasatkin Sumy State University, 2017 | | 2017 |
| Влияние имплантации H на оптические свойства кристаллов полуизолирующего арсенида галлия в ИК-области спектра НИ Клюй, ВБ Лозинский, АИ Липтуга, ВН Дикуша, АП Оксанич, ... Физика и техника полупроводников 51 (3), 317-321, 2017 | | 2017 |
| Вплив телуру на деградаційну стійкість кристалів напівізолюючого арсеніду галію МІ Клюй, АІ Ліптуга, ВБ Лозінський, АП Оксанич, СЕ Притчин, ... Український фізичний журнал, 1094-1098, 2014 | | 2014 |
| Мультидзеркальна фасеточна концентраторна установка МІ Клюй, АВ Макаров, ВБ Лозінський, ВП Темченко ХНУРЭ, 2012 | | 2012 |
| РОЗРОБКА МЕТОДИКИ ТА ОБЛАДНАННЯ ДЛЯ ДІАГНОСТИКИ СТРУКТУРНОЇ ДОСКОНАЛОСТІ І РІВНЯ МЕХАНІЧНИХ НАПРУЖЕНЬ В ТОНКИХ ПРИПОВЕРХНЕВИХ ШАРАХ КРЕМНІЮ МІ Клюй, АМ Лук’янов, ВБ Лозінський, АП Оксанич, ФВ Фомовський Напівпровідникові матеріали, інформаційні технології та фотовольтаї-ка. Тези …, 2011 | | 2011 |
| ІНКАПСУЛЯЦІЯ КРЕМНІЄВИХ СОНЯЧНИХ МОДУЛІВ З ВИКОРИСТАННЯМ СИЛІКОНОВИХ КАУЧУКІВ АВ Макаров, МІ Клюй, ВБ Лозінський, ІД Северінова Напівпровідникові матеріали, інформаційні технології та фотовольтаї-ка. Тези …, 2011 | | 2011 |
| IR Study of Buried Layer Structure on Different Stages of Technology VG Litovchenko, IP Lisovskii, VB Lozinskii, BN Romanyuk, VP Melnik Physical and Technical Problems of SOI Structures and Devices, 157-162, 1995 | | 1995 |
| Optical characterization of SIPOS layers structure IP Lisovskii, VG Litovchenko, VB Lozinskii, EV Mischenko, W Fussel Proceedings of SPIE-The International Society for Optical Engineering, 165-170, 1995 | | 1995 |
