关注
Vahid Bakhtiary
Vahid Bakhtiary
在 mail.sbu.ac.ir 的电子邮件经过验证 - 首页
标题
引用次数
引用次数
年份
An SEU-hardened ternary SRAM design based on efficient ternary C-elements using CNTFET technology
V Bakhtiary, A Amirany, MH Moaiyeri, K Jafari
Microelectronics Reliability 140, 114881, 2023
152023
系统目前无法执行此操作,请稍后再试。