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合著作者
Pralav P. ShettyVP and GM, Electron Microscopy and Failure Analysis, Covalent Metrology在 covalentmetrology.com 的电子邮件经过验证- Matthew T. McDowellAssociate Professor, Georgia Institute of Technology在 gatech.edu 的电子邮件经过验证
- Mengkun TianStaff scientist, Georgia Institute of Technology在 gatech.edu 的电子邮件经过验证
- Neha KondekarApple在 gatech.edu 的电子邮件经过验证
- Matthew BoebingerCenter for Nanophase Materials Science at Oak Ridge National Laboratory在 ornl.gov 的电子邮件经过验证
- Akila C. ThenuwaraSenior Battery Scientist, Corning Incorporated在 me.gatech.edu 的电子邮件经过验证
- Josh KacherGeorgia Tech在 mse.gatech.edu 的电子邮件经过验证
- Arash Fereidouni Ghaleh MinabZurich Instruments USA, Inc.在 zhinst.com 的电子邮件经过验证
- Hugh ChurchillAssociate Professor of Physics, University of Arkansas在 uark.edu 的电子邮件经过验证
- Courtney BreaQueens College CUNY在 gradcenter.cuny.edu 的电子邮件经过验证
- Guoxiang (Emma) HuAssistant Professor, Georgia Institute of Technology在 mse.gatech.edu 的电子邮件经过验证
- Elif Pınar AlsaçGeorgia Institute of Technology在 gatech.edu 的电子邮件经过验证
- Sun Geun YoonPostdoctoral Researcher, George W. Woodruff School of Mechanical Engineering, Georgia Tech在 gatech.edu 的电子邮件经过验证
