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Efe Cakar

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Towards Utilizing Scanning Gate Microscopy as a High-Resolution Probe of Valley Splitting in Si/SiGe Heterostructures E Cakar, HE Ercan, G Fuchs, AO Denisov, CR Anderson, MF Gyure, ... arXiv preprint arXiv:2405.03596, 2024		2024
Characterizing Valley Splitting in Si/SiGe Quantum Devices Using a Scanning Gate Microscope Tip-Induced Quantum Dot E Cakar, G Fuchs, E Ercan, A Denisov, C Anderson, M Gyure, J Petta APS March Meeting 2024, 2024		2024

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文章 1–2

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