An approach to reducing the distortion caused by vibration in scanning electron microscope images
KO Jung, SJ Kim, DH Kim - Nuclear Instruments and Methods in Physics …, 2012 - Elsevier
When images are obtained from a scanning electron microscope (SEM), several types of
noise are frequently included. These noises have a great influence on the image of the …
noise are frequently included. These noises have a great influence on the image of the …
[PDF][PDF] A method of magnetic field measurement in a scanning electron microscope using a microcantilever magnetometer
K Orłowska, ME Mognaschi, K Kwoka… - Metrology and …, 2020 - bibliotekanauki.pl
Scanning electron microscopy (SEM) is a perfect technique for micro-/nano-object imaging
[1] and movement measurement [2, 3] both in high and environmental vacuum conditions …
[1] and movement measurement [2, 3] both in high and environmental vacuum conditions …
Scanning imaging restoration of moving or dynamically deforming objects
H Xie, J Liang, Z Wang, M Liao… - IEEE Transactions on …, 2020 - ieeexplore.ieee.org
The raster scanning imaging mode is widely used in scanning electron microscopes (SEMs),
transmission electron microscopes (TEM), and atomic force microscopes (AFM), and can …
transmission electron microscopes (TEM), and atomic force microscopes (AFM), and can …
[PDF][PDF] Electromagnetic Field Measurement
A Mariscotti - researchgate.net
[15] BIPM, Evaluation of measurement data—Guide to the expression of uncertainty in
measurement, JCGM 100: 2008.[16] M. Bittera V. Smiesko K. Kovac J. Hallon,“Directional …
measurement, JCGM 100: 2008.[16] M. Bittera V. Smiesko K. Kovac J. Hallon,“Directional …
[PDF][PDF] Wpływ masy elektronu na błąd pomiaru natężenia prądu czujnikiem polarymetrycznym
SA Torbus - Przegląd Elektrotechniczny, 2014 - pe.org.pl
W pracy krótko scharakteryzowano zasadę działania polarymetrycznego czujnika natężenia
prądu, która wprost wynika z definicji magnetooptycznego zjawiska Faradaya …
prądu, która wprost wynika z definicji magnetooptycznego zjawiska Faradaya …
Niepewność oceny indukcji pola magnetycznego na podstawie badania zniekształceń obrazów w skaningowej mikroskopii elektronowej
Ł Oskwarek - Przegląd Elektrotechniczny, 2012 - yadda.icm.edu.pl
Tematyka artykułu dotyczy analizy metrologicznej wyników pomiarów i obliczeń związanych
z opracowaną wcześniej oryginalną metodą oceny wpływu zewnętrznych pól zakłócających …
z opracowaną wcześniej oryginalną metodą oceny wpływu zewnętrznych pól zakłócających …
[PDF][PDF] Przykłady zastosowań metod planowania i oceny eksperymentu w tomografii impedancyjnej i mikroskopii elektronowej
Ł Oskwarek - Pomiary Automatyka Kontrola, 2011 - bibliotekanauki.pl
Przedmiotem artykułu są wybrane zagadnienia z teorii eksperymentu, takie jak: testowanie
hipotez statystycznych, ocena istotności wpływu czynników oraz ocena postaci równania …
hipotez statystycznych, ocena istotności wpływu czynników oraz ocena postaci równania …
Department of Materials and Semiconductor Structures Research
A Czerwiński - Prace Instytutu Technologii Elektronowej, 2011 - yadda.icm.edu.pl
Department of Materials and Semiconductor Structures Research - Prace Instytutu
Technologii Elektronowej - Tom z. 1/2 (2011) - BazTech - Yadda PL | EN Szukaj Przeglądaj …
Technologii Elektronowej - Tom z. 1/2 (2011) - BazTech - Yadda PL | EN Szukaj Przeglądaj …