Infrared birefringence imaging of residual stress and bulk defects in multicrystalline silicon

V Ganapati, S Schoenfelder, S Castellanos… - Journal of Applied …, 2010 - pubs.aip.org
This manuscript concerns the application of infrared birefringence imaging (IBI) to quantify
macroscopic and microscopic internal stresses in multicrystalline silicon (mc-Si) solar cell …

[PDF][PDF] Η ενδικοφανής προσφυγή κατά τον Κώδικα Φορολογικής Διαδικασίας

Δ Χαλκιάς - repo.lib.duth.gr
Ο θεσµός της ενδικοφανούς προσφυγής δεν αποτελεί παρθενογένεση των ηµερών µας,
αντιθέτως οι ρίζες του ανατρέχουν βαθιά στο παρελθόν. Στην εποχή µας, όµως, το …